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產(chǎn)品名稱: 熱敏電阻測(cè)試儀|AT5112 PTC電阻測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào): AT5112
產(chǎn)品展商: Applent
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
熱敏電阻測(cè)試儀|AT5112 PTC電阻測(cè)試儀
AT5112是針對(duì)熱敏電阻的雙路測(cè)試儀，內(nèi)置2路電阻測(cè)試電路，可同時(shí)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)PTC和被測(cè)PTC進(jìn)行測(cè)試得出差值并換算成實(shí)際值，忽略PTC的自身溫度敏感特性，達(dá)到**測(cè)試，測(cè)試誤差小于0.1Ω，準(zhǔn)確度0.1%。
采樣微處理器控制的AT5112可實(shí)現(xiàn)不開蓋校準(zhǔn)，其*高測(cè)試速度高達(dá)50次/秒，無論是人工測(cè)試或是自動(dòng)化測(cè)試都應(yīng)付自如。
熱敏電阻測(cè)試儀|AT5112 PTC電阻測(cè)試儀
的詳細(xì)介紹
熱敏電阻測(cè)試儀|AT5112 PTC電阻測(cè)試儀
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AT5112是針對(duì)熱敏電阻的雙路測(cè)試儀，內(nèi)置2路電阻測(cè)試電路，可同時(shí)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)PTC和被測(cè)PTC進(jìn)行測(cè)試得出差值并換算成實(shí)際值，忽略PTC的自身溫度敏感特性，達(dá)到**測(cè)試，測(cè)試誤差小于0.1Ω，準(zhǔn)確度0.1%。
采樣微處理器控制的AT5112可實(shí)現(xiàn)不開蓋校準(zhǔn)，其*高測(cè)試速度高達(dá)50次/秒，無論是人工測(cè)試或是自動(dòng)化測(cè)試都應(yīng)付自如。 |
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| 技術(shù)規(guī)格 |
| 路數(shù) |
雙路測(cè)試：標(biāo)準(zhǔn)PTC和被測(cè)PTC |
| 測(cè)量參數(shù) |
PTC電阻 |
| 基本準(zhǔn)確度 |
0.3% |
| 測(cè)量范圍 |
0Ω～100Ω |
| 信號(hào)源 |
電流：1mA |
| 測(cè)試速度 |
3次/秒 |
| 顯示結(jié)果 |
標(biāo)稱值+差值 |
| *大讀數(shù) |
1000 |
| 校正 |
短路清零 |
| 比較器 |
顯示LOW, IN, HIGH |
| 訊響 |
GD、NG、關(guān)設(shè)置 |
| 測(cè)試端 |
每路4端屏蔽（包括2個(gè)檢測(cè)端和2個(gè)驅(qū)動(dòng)端）和外屏蔽地端 |
| 接口 |
可選Handler接口 |
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| 性能特征 |
| ● |
內(nèi)置比較器設(shè)置 |
| ● |
可選Handler接口 |
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| 應(yīng)用 |
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