在維修各種電子設(shè)備時(shí)，您是否常因圖紙資料不全而束手無(wú)策？您是否常因高昂的維修費(fèi)用而增添煩惱？
 
  高能檢測(cè)儀GT-4040P幫助您解除電路板維修中的煩惱。 高能檢測(cè)儀配合電腦使用，全部智能化。它利用電腦來(lái)彌補(bǔ)人工維修能力的不足，能夠在維修人員缺乏圖紙資料或不清楚電路板工作原理的情況下，對(duì)各種類型的電路板進(jìn)行ASA分析或ICT測(cè)試，在線檢測(cè)元器件好壞，迅速檢測(cè)到電路板上故障元器件。

   *先進(jìn)的測(cè)試技術(shù)，強(qiáng)大的驅(qū)動(dòng)能力，任何故障原因的電路板皆可修好；

   *友好簡(jiǎn)單的中文操作界面，不經(jīng)專業(yè)訓(xùn)練，任何人均可成為維修專家；

   *無(wú)需電路原理圖，不必知道器件型號(hào)，對(duì)任何電路板皆可快速維修；

   *40路數(shù)字電路測(cè)試功能，備有TTL、CMOS及中大規(guī)模集成電路數(shù)據(jù)庫(kù)；

   *40路/2路（ASA）V/I曲線分析測(cè)試功能；

   *電路板測(cè)試存儲(chǔ)功能，被測(cè)板可與之比較；

   *真正的總線動(dòng)態(tài)隔離信號(hào)，使IC測(cè)試更加準(zhǔn)確；

   ***電路網(wǎng)絡(luò)表提取，使您方便畫出相應(yīng)原理圖；

   ***存儲(chǔ)器測(cè)試，方便您對(duì)存儲(chǔ)器測(cè)試及在線讀取；

   *簡(jiǎn)單編程語(yǔ)言，使您自行擴(kuò)充庫(kù)成為現(xiàn)實(shí)；

   *與進(jìn)口同類儀器比較，性價(jià)比更優(yōu)，操作更方便。


高能電路故障維修測(cè)試儀GT4040P
工作原理: 

  （Analog Signature Analysis）對(duì)元件每個(gè)管腳提供一個(gè)**、低功率的掃描驅(qū)動(dòng)電壓信號(hào)，以便產(chǎn)生一個(gè)阻抗特性圖并在CRT上顯示，且可存儲(chǔ)，以備比對(duì)。所有測(cè)試都是在靜態(tài)下（不加電）執(zhí)行，所以不會(huì)傷害到元件。它不僅能快速掃描并存儲(chǔ)各類IC每個(gè)管腳V/I曲線圖形，并且對(duì)各類分立元件如：電阻、電容等同樣有效。

  （In Circuit Testing）它能把待測(cè)元件與PC資料庫(kù)內(nèi)相對(duì)應(yīng)的元件資料作邏輯功能測(cè)試比較，測(cè)試時(shí)可在CRT上顯示元件管腳連接狀態(tài)、元件輸入管腳的輸入波形，同時(shí)顯示相應(yīng)輸出管腳的實(shí)測(cè)波形及標(biāo)準(zhǔn)波形，以便判定IC邏輯功能好壞。此功能可快速測(cè)試IC好壞，也可測(cè)試分析，還可識(shí)別不明型號(hào)的IC。

主要測(cè)試功能:

1)數(shù)字IC功能測(cè)試

    本功能采用后驅(qū)動(dòng)隔離技術(shù)，可在線判定IC邏輯功能是否正確，可測(cè)試74系列、4000/4500邏輯IC、75系列接口IC等兩千余種集成電路。將測(cè)試儀上的5V外供電源通過(guò)隨機(jī)所帶電源鉤引到被測(cè)板，再把測(cè)試夾夾在被測(cè)IC上，輸入其型號(hào)，測(cè)試儀就在微機(jī)的控制下，自動(dòng)進(jìn)行測(cè)試，并將結(jié)果顯示出來(lái)。在這個(gè)過(guò)程中，測(cè)試儀首先檢查是否對(duì)被測(cè)板正確供電，然后檢查測(cè)試夾同被測(cè)IC是否接觸良好。一切正常，再檢查被測(cè)IC各管腳處于何種狀態(tài)（比如電源，地、輸入/輸出等）以及哪些管腳短接在一起，據(jù)此求出相應(yīng)的測(cè)試碼，送到被測(cè)IC輸入端，再?gòu)腎C輸出端取回對(duì)測(cè)試碼的響應(yīng)。將取回的實(shí)測(cè)響應(yīng)和計(jì)算出的預(yù)期響應(yīng)相比較，就能發(fā)現(xiàn)故障。（后驅(qū)動(dòng)隔離技術(shù)：后驅(qū)動(dòng)隔離技術(shù)由美國(guó)施倫伯杰公司的Factron在68年提出。早在這類在線維修測(cè)試儀出現(xiàn)之前，就在生產(chǎn)用大型針床式電路板測(cè)試儀上得到廣泛應(yīng)用。該技術(shù)利用了半導(dǎo)體器件允許瞬態(tài)過(guò)載的特性，向被測(cè)IC的前級(jí)輸出灌進(jìn)瞬間大電流，強(qiáng)迫其按測(cè)試需要由高變低或由低變高。達(dá)到被測(cè)IC輸入在線施加測(cè)試碼的目的。） 　

2)快速測(cè)試

    故障電路板上有許多中小規(guī)模IC，究竟哪些IC是有問(wèn)題的，可利用"快速測(cè)試"迅速進(jìn)行篩選。此功能僅給出IC是否通過(guò)測(cè)試的結(jié)果，不提供任何故障診斷信息。下一步用診斷測(cè)試對(duì)未通過(guò)測(cè)試的IC作進(jìn)一步的檢查。

3)診斷測(cè)試

    該測(cè)試不僅給出測(cè)試是否通過(guò)的信息，測(cè)試過(guò)程中的測(cè)試碼波形、響應(yīng)波形、各管腳的邏輯狀態(tài)、測(cè)試前的管腳電平、管腳的連接關(guān)系以及器件圖都能顯示出來(lái)，供您查閱。比較預(yù)期響應(yīng)和實(shí)際響應(yīng)的不同，可進(jìn)一步了解IC測(cè)試失敗的原因。 圖為74ls24的管腳電平和連接關(guān)系

4)IC循環(huán)測(cè)試（Loop Test）

    該功能專為檢查因溫升造成的故障而設(shè)。有的IC開(kāi)機(jī)運(yùn)行幾分鐘后，由于溫升而失效，當(dāng)停機(jī)后尋找故障時(shí)，溫度降低功能又恢復(fù)正常。這種故障使維修人員深感**，"循環(huán)測(cè)試"功能有助于發(fā)現(xiàn)這種問(wèn)題。

5)無(wú)型號(hào)IC識(shí)別

    功能測(cè)試時(shí)必須鍵入被測(cè)IC的型號(hào)，但經(jīng)常有IC型號(hào)不清楚或故意擦掉的情況，使得測(cè)試工作無(wú)法進(jìn)行。本功能可迅速把無(wú)型號(hào)的IC的型號(hào)自動(dòng)查出來(lái)顯示在屏幕上。但這種查找必須是器件庫(kù)內(nèi)有的，并且功能必須完好。

6)離線測(cè)試

    上述幾種測(cè)試功能均可在隨機(jī)的離線測(cè)試器上進(jìn)行。并且結(jié)果更準(zhǔn)確?？捎闷骷Y選，或?qū)υ诰€測(cè)試有問(wèn)題的器件做進(jìn)一步的確認(rèn)。

7)數(shù)字IC狀態(tài)測(cè)試

    路板上每個(gè)數(shù)字器件，在加電后都有3種狀態(tài)特征：各管腳的邏輯狀態(tài)（電源、地、高阻、信號(hào)等）、管腳之間的連接關(guān)系、輸入輸出邏輯關(guān)系。當(dāng)器件損壞后，其狀態(tài)特征一般都要發(fā)生變化。測(cè)試儀能夠把好的電路板上各IC的狀態(tài)特征提取出來(lái)，存入微機(jī)的數(shù)據(jù)庫(kù)中，然后與同類有故障的電路板進(jìn)行比較，從而可相當(dāng)準(zhǔn)確的找到故障器件。這類學(xué)習(xí)的板越多，日后的工作越方便。 這種測(cè)試方法不僅適用于器件庫(kù)中已有的IC，也適用于庫(kù)中沒(méi)有的IC。是檢測(cè)各種專用器件、PAL、GAL、EPLD等可編程器件以及大規(guī)模集成電路強(qiáng)有力的手段。

8)VI曲線分析測(cè)試

    本測(cè)試功能建立于模擬特征分析技術(shù)之上?？蓱?yīng)用于模擬、數(shù)字，各種專用器件、可編程器件以及大規(guī)模、超大規(guī)模器件。 使用測(cè)試儀進(jìn)行此項(xiàng)測(cè)試十分簡(jiǎn)單。只需用探棒點(diǎn)到好板子上的元件管腳上，或者用測(cè)試夾夾在器件上，測(cè)試儀就能自動(dòng)把該結(jié)點(diǎn)的特征曲線提取出來(lái)，顯示在計(jì)算機(jī)屏幕上，*后存入計(jì)算機(jī)中。通過(guò)同樣簡(jiǎn)單的操作，可以將庫(kù)中的曲線和新測(cè)到的曲線在屏幕上同時(shí)顯示出來(lái)。比較兩者之差異就能發(fā)現(xiàn)故障。 曲線在計(jì)算機(jī)中是以電路板為單位存放的。一個(gè)板一個(gè)文件，板上所有結(jié)點(diǎn)的曲線都放在該文件中，沒(méi)有容量限制。允許用軟盤拷貝出來(lái)。 該項(xiàng)測(cè)試一般要求在被測(cè)板不加電的情況下進(jìn)行檢測(cè)（只是注意板子上的電壓不能高于掃描電壓），這在很多情況下有助于進(jìn)一步確認(rèn)故障。 邏輯器件管腳節(jié)點(diǎn)處含有R、C、L元件，或者是模擬集成電路的故障，用"IV曲線分析"方法是很有效的。 "VI曲線"反映了節(jié)點(diǎn)處的阻抗特性，實(shí)際電路中的曲線形狀是多樣的，我們要熟悉典型元件的曲線形狀；如純電阻為直線，其斜率大，阻值??；純電容為一橢圓，橢圓的Y/X軸比例越大其容量也越大，以及我們常見(jiàn)的二極管、穩(wěn)壓管等不對(duì)稱非線性PN結(jié)特征曲線等等。實(shí)際電路中提取的VI曲線必是這些典型曲線的合成。所以根據(jù)實(shí)際電路節(jié)點(diǎn)的VI曲線幾何形狀，可大致推測(cè)出該節(jié)點(diǎn)是哪些元件組成的；反之也可推測(cè)出某些屬性節(jié)點(diǎn)提取的曲線的大概形狀。如果比預(yù)測(cè)形狀相差甚遠(yuǎn)，肯定有問(wèn)題。 " VI曲線分析"還有另一個(gè)實(shí)用性：即當(dāng)電路板上芯片溫度異常過(guò)熱，為了避免擴(kuò)大故障范圍，不適于加電測(cè)試時(shí)，可改用"VI曲線分析"（不加電）逐個(gè)管腳檢查，能確切地定位故障點(diǎn)。 測(cè)試時(shí)需要注意的是當(dāng)元件阻值（或阻抗）過(guò)大（R>300K，C<500PF）、過(guò)?。≧<10，C>400uF）時(shí)，其曲線與開(kāi)路、短路無(wú)法區(qū)分。VI曲線分析的這種局限性供您工作中參考。
　
9)**存儲(chǔ)器測(cè)試

    **存儲(chǔ)器測(cè)試可對(duì)SRAM/DRAM，PROM/EPROM存儲(chǔ)器共1500余種；
進(jìn)行在線/離線、快速/完全測(cè)試，滿足不同測(cè)試需求。 對(duì)PROM/EPROM，將其中的內(nèi)容讀取出來(lái)，和以前電路板無(wú)故障時(shí)讀出并存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)中的內(nèi)容相比較，不一致則說(shuō)明有問(wèn)題。 DRAM/SRAM，在測(cè)試期間先寫入，再讀出。寫入內(nèi)容和讀出內(nèi)容不一致則說(shuō)明有問(wèn)題。

1)快速測(cè)試

    其特點(diǎn)是測(cè)試速度很快，用于迅速檢測(cè)被測(cè)存儲(chǔ)器是否有故障。它不遍歷每個(gè)存儲(chǔ)單元，只按一定算法取部分存儲(chǔ)單元進(jìn)行測(cè)試。

2)完全測(cè)試

    遍歷每個(gè)存儲(chǔ)單元，所以可把PROM/EPROM中的內(nèi)容全部讀出來(lái)，存成二進(jìn)制文件，供用戶復(fù)制或剖析。

3)離線測(cè)試

    對(duì)未焊接在板子上的存儲(chǔ)器進(jìn)行測(cè)試，離線測(cè)試只有完全測(cè)試。
　
4)在線測(cè)試

    對(duì)焊接在板子上的存儲(chǔ)器進(jìn)行測(cè)試。存儲(chǔ)器測(cè)試的特點(diǎn)是時(shí)間長(zhǎng)。完全測(cè)試一個(gè)2K容量的存儲(chǔ)器，也比*復(fù)雜的邏輯器件所用時(shí)間長(zhǎng)得多。所以在線測(cè)試支持快速測(cè)試和完全測(cè)試。并且對(duì)完全測(cè)試進(jìn)行了特殊處理，使得既能訪問(wèn)到每一個(gè)存儲(chǔ)單元，有能保證測(cè)試**。 存儲(chǔ)器往往都掛在總線上，要保證在線測(cè)試準(zhǔn)確，需用GUARD信號(hào)進(jìn)行總線隔離。測(cè)試存儲(chǔ)器所需要的時(shí)間與存儲(chǔ)容量成正比。對(duì)一個(gè)容量1K字節(jié)的讀寫存儲(chǔ)器進(jìn)行完全測(cè)試（即遍歷每一個(gè)存儲(chǔ)單元），至少需要4096個(gè)測(cè)試節(jié)拍。對(duì)容量為2K、4K、8K的存儲(chǔ)器，其測(cè)試時(shí)間分別是測(cè)1K存儲(chǔ)器的2倍，4倍，8倍。
　
10)LSI分析測(cè)試

    LSI測(cè)試分析與中小規(guī)模IC的測(cè)試原理有很大差別，主要不同點(diǎn)在于：LSI內(nèi)部結(jié)構(gòu)與中小規(guī)模IC不同，其輸入輸出邏輯關(guān)系不能直接確定。一片LSI器件的功能一般都由許多子功能組成，如CPU器件就有取數(shù)、中斷、復(fù)位等，也往往有不同的使用方式，如8086就有大小模式之分。對(duì)LSI的測(cè)試就是對(duì)它的每一個(gè)子功能都用一段相應(yīng)的測(cè)試碼進(jìn)行測(cè)試，我們稱之為"子測(cè)試"，也就是說(shuō)每個(gè)子測(cè)試只測(cè)一片LSI器件的一項(xiàng)子功能。通過(guò)好壞板上的子測(cè)試的比較情況來(lái)判斷被測(cè)LSI器件是否有故障。 測(cè)試分析LSI首先要"離線學(xué)習(xí)"，以得出"參考文件"，再"離線測(cè)試"，以得出被測(cè)LSI的準(zhǔn)確數(shù)據(jù)備用，然后"在線學(xué)習(xí)"好的被測(cè)板上的相同的LSI數(shù)據(jù)存入硬盤供日后與故障板進(jìn)行比較。一片好的LSI器件，"離線測(cè)試"時(shí)應(yīng)通過(guò)全部子測(cè)試，但在線時(shí)由于實(shí)際使用方式的不同，有的子功能使用，有的子功能不使用。那么好的LSI器件"在線學(xué)習(xí)"時(shí)，對(duì)其不使用的子功能（或方式），在進(jìn)行"子測(cè)試"時(shí)，允許它不通過(guò)（失效）。因此這就要求先用一塊好電路板，通過(guò)學(xué)習(xí)其上的LSI器件，可確定通過(guò)了哪些子測(cè)試，哪些沒(méi)有通過(guò)并存入盤內(nèi)，供日后對(duì)相同的、有故障的電路板做對(duì)照比較測(cè)試。如果與當(dāng)時(shí)存入的那些子測(cè)試的通過(guò)情況不同，則表示該器件可能有問(wèn)題。

11)電路網(wǎng)絡(luò)表提取及測(cè)試 　
A.**電路網(wǎng)絡(luò)表提取

    為了得到被測(cè)電路板的電路圖，以便日后更好地開(kāi)展維修工作，您往往希望得到被測(cè)電路板的電路圖。也許您（包括許多人）已經(jīng)用萬(wàn)用表嘗試過(guò)此項(xiàng)工作，用測(cè)試儀的此項(xiàng)功能您會(huì)有重新體會(huì)。 所謂"**"網(wǎng)絡(luò)表提取，是指測(cè)試儀提供三種操作模式，能夠處理各種元器件之間的連接關(guān)系的提取。 　
測(cè)試夾 ――― 測(cè)試夾
這種模式主要用來(lái)處理數(shù)字IC之間的網(wǎng)絡(luò)提取。用邏輯信號(hào)來(lái)檢查IC之間是否直接相連。提取速度快，工作效率高。 　
測(cè)試夾 ――― 測(cè)試探棒
這種模式主要用來(lái)處理IC和分立元器件（包括一端是可使用測(cè)試夾的IC，一端是不能使用測(cè)試夾的IC）之間的連接關(guān)系。 　
測(cè)試探棒 ――― 測(cè)試探棒
這種模式主要用來(lái)提取分立元件之間（包括不能使用測(cè)試夾的IC）的連接關(guān)系。 后兩種模式更多地涉及到模擬器件，所以用模擬信號(hào)來(lái)檢查元器件之間的連接關(guān)系。目前的測(cè)試儀在后兩種模式下，能夠識(shí)別約8歐姆以上電阻、3.2毫亨以上電感和400微法以下電容。

B.**電路網(wǎng)絡(luò)測(cè)試

    目前的電路在線維修測(cè)試儀，其各種測(cè)試功能，都是用于檢查電路板上元器件的功能性故障的。對(duì)于電路板本身的故障，比如由于斷線或金屬化孔不通造成的開(kāi)路故障；焊接或引線毛刺造成的短路故障則無(wú)能為力。由于這類故障往往不以元器件的功能異常表現(xiàn)出來(lái)，而是表現(xiàn)為電路板網(wǎng)絡(luò)表的改變，所以，利用從好的電路板上"學(xué)習(xí)"到的網(wǎng)絡(luò)表，去同相應(yīng)的故障板做對(duì)照檢查，就能發(fā)現(xiàn)電路板本身的開(kāi)路/短路故障。 一般而言，在維修工作中，電路板的開(kāi)/短路故障相對(duì)比較少見(jiàn)。而在電路板的生產(chǎn)調(diào)試中，絕大部分故障都是這種故障。所以，網(wǎng)絡(luò)測(cè)試功能不僅使得測(cè)試儀能夠更好地應(yīng)用于維修測(cè)試，而且使它能夠有效地用于小批量電子產(chǎn)品生產(chǎn)中的電路板故障檢測(cè)。 網(wǎng)絡(luò)測(cè)試的使用過(guò)程和提取基本一致。比較是否有錯(cuò)由計(jì)算機(jī)自動(dòng)完成，并將出錯(cuò)結(jié)果在屏幕上顯示出來(lái)。

高能電路故障維修測(cè)試儀GT4040P
完善的輔助測(cè)試功能使檢測(cè)更加可靠、準(zhǔn)確

*真正的總線動(dòng)態(tài)隔離信號(hào)

    從在線測(cè)試角度看，有兩個(gè)以上的三態(tài)器件，其輸出并接在一起就構(gòu)成總線。測(cè)試期間的總線競(jìng)爭(zhēng)是導(dǎo)致誤判的*常見(jiàn)原因之一。而靜態(tài)總線隔離信號(hào)是危及測(cè)試**的常見(jiàn)情況。測(cè)試儀提供給您的是真正符合后驅(qū)動(dòng)要求的動(dòng)態(tài)隔離信號(hào)。只要簡(jiǎn)單地將它引到造成競(jìng)爭(zhēng)的IC的使能端，該信號(hào)將在測(cè)試瞬間將該IC從總線上隔離開(kāi)，保證測(cè)試準(zhǔn)確。 　

*測(cè)試夾接觸檢查

    IC管腳氧化銹蝕、保護(hù)涂層未打磨干凈或測(cè)試夾未夾牢靠都會(huì)造成接觸問(wèn)題。這是造成錯(cuò)誤測(cè)試結(jié)果的又一常見(jiàn)原因。測(cè)試儀會(huì)在測(cè)試前檢查接觸情況、發(fā)現(xiàn)問(wèn)題將及時(shí)在屏幕上提示出來(lái)。 　

*自動(dòng)加上拉電阻

    測(cè)試儀可以識(shí)別集電極開(kāi)路器件，在測(cè)試時(shí)加1K上拉電阻、無(wú)需另外費(fèi)心。 　

*掉電監(jiān)測(cè)

    這是一項(xiàng)十分重要、用戶需要十分關(guān)注的功能。瞬間掉電（電網(wǎng)上的強(qiáng)烈干擾，電源接插件晃動(dòng)等）往往發(fā)生于你毫無(wú)察覺(jué)的情況下。它會(huì)使測(cè)試儀電路狀態(tài)混亂，導(dǎo)致測(cè)試通道失控，從而危及被測(cè)板電路的**。大多數(shù)情況下會(huì)造成器件特性軟化，工作壽命降低。但這種損壞，用戶往往當(dāng)時(shí)難以察覺(jué)。測(cè)試儀設(shè)有**硬件掉電監(jiān)測(cè)，可在掉電恢復(fù)后，立即（毫秒級(jí)）將電路及測(cè)試通道置于預(yù)期狀態(tài)。

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